# Interpret Chromatogram

> Interpret a chromatogram from GC or HPLC analysis: verify system suitability parameters, identify peaks by retention time and spectral matching, perform accurate peak integration, calculate chromatographic figures of merit, and assess overall peak quality for reliable quantitation.

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- Updated: 2026-09-21
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# 解譜

系統解 GC、HPLC 譜：驗系統適性、識峰、積分、算色譜參、評峰質以得可靠定量。

## 用

- 報析前審色譜數據
- 驗樣品序前系統適性測過
- 以保留時或譜識未知峰、證已知分析物
- 調異常峰、基線偏、積分偽影
- 訓析者解色譜

## 入

### 必

- **譜**：數字或印譜，時軸及檢測響應軸
- **參標**：同法下已知分析物之保留時與響應
- **法參**：柱、流動相/載氣、溫/梯度、檢測器設

### 可

- **譜數據**：UV-Vis（DAD）、質譜（MS）或他譜以證峰
- **前譜**：同法歷數據以比趨勢
- **系統適性準**：法或規之受納限
- **樣備細**：稀釋係、提取收率、內標濃

## 行

### 一：驗系統適性

樣前確系統於規內行。

| 參 | 典規 | 算 |
|---|---|---|
| 保留時 RSD | <= 1.0% | n >= 5 注之 tR 之 RSD |
| 峰面 RSD | <= 2.0%（分析），<= 5.0%（雜） | n >= 5 注之面 RSD |
| 拖尾因 T | 0.8-2.0（USP），宜 0.9-1.2 | T = W0.05 / (2 * f)，W0.05=5% 高寬，f=前半寬 |
| 分離度 Rs | >= 1.5（基線），>= 2.0（規） | Rs = 2(tR2 - tR1) / (w1 + w2) |
| 理論塔板 N | 按柱規（如 >= 2000） | N = 16(tR / w)^2 或 N = 5.54(tR / w0.5)^2 |
| 容量因 k' | 主分析物 2.0-10.0 | k' = (tR - t0) / t0 |

1. 尋系統適性注（序始 5-6 次參標複注）
2. 算上表各參
3. 計值 vs 法受納準
4. 若任參敗→系統不適→勿進樣品解，待解
5. 於批記錄記諸結

得：諸適性參於規內，證系統適用。

敗：tR RSD 敗→查溫不穩、流動相備誤、柱退。T 敗→察入口襯管（GC）或柱篩（HPLC）。Rs 敗→以專測混查柱性能，必要換。

### 二：識峰

1. 各峰保留時（tR）vs 參標譜
   - 可受匹配：參 tR +/- 2%（或短運 +/- 0.1 分）
2. 模糊識→用共注（加標）：加參標於樣再注。目峰增而不展、不肩
3. DAD HPLC：各峰 UV-Vis 譜 vs 譜庫
   - 譜匹配指 >= 990（千）為正識
   - 察峰橫向譜純（前、頂、尾譜當疊）
4. MS 系統：以分子離子（m/z）與關鍵碎片對參譜證
5. 不可識峰→標「未知」，記 tR 與相對響應

得：諸目分析物以 tR 識，有譜處加譜證。未知峰標 tR 與面。

敗：保留時一致偏→系統變（柱老、溫漂、流動相誤）。再注參標以立當前 tR 後重審。

### 三：積分

1. 擇模式：
   - 自動積分起始
   - 手動僅於自動顯然誤置基線或峰界時
2. 設參：
   - 基線檢靈敏（斜率/閾）
   - 拒噪最小面或高
   - 峰寬配最窄預期峰
3. 驗基線置：
   - 基線當連峰首尾於真基線
   - 重疊峰：按法用谷至谷或垂直降
   - 梯度法：基線或升→用切線擺或指數擺
4. 查誤：
   - 分裂峰積為二當為一
   - 肩峰併入主峰當分
   - 噪刺積為峰
   - 基線穿峰（負峰剪切）
5. 記終積分參與手動調之理由於審計跡

得：諸目峰以正基線積，無偽影，諸手動調有正當記錄。

敗：自動持續誤一峰形→造定時事件積分法，於該 tR 窗用自定參。切勿為得結調積分——調須科學正當。

### 四：算色譜參

為諸報峰算：

1. **分離度 Rs** 鄰峰間：
   - Rs = 2(tR2 - tR1) / (w1 + w2)
   - Rs >= 1.5 為基線分；Rs >= 2.0 為常規餘
2. **拖尾因 T** 於 5% 峰高：
   - T = W0.05 / (2f)
   - T = 1.0 為完全對稱；T > 2.0 示顯拖尾
3. **理論塔板 N**：
   - N = 16(tR / w)^2 用基線寬，或 N = 5.54(tR / w0.5)^2 用半高寬
   - N 高→柱效佳
4. **容量因 k'**：
   - k' = (tR - t0) / t0，t0 為死時（柱死體積/流速）
   - 理想範：2-10
5. **選擇性 alpha**（關鍵對）：
   - alpha = k'2 / k'1
   - alpha > 1.05 一般足分
6. 列諸分析物結，比法規

得：諸色譜參算、列、比受納準。關鍵對分離度與塔板數記。

敗：算得塔板顯低於柱規→柱或退→以新標測並比歷史。序內參漂→查儀穩。

### 五：評峰質

1. **對稱**：峰當高斯或近。顯前沿（T < 0.8）→柱過載；拖尾（T > 1.5）→次作用或死體積
2. **基線分**：定量須關鍵對基線分。若谷不歸基線→記谷百分並評對準確之影響
3. **峰寬一致**：顯寬於預期（比標）→柱上降、柱外帶展寬或注問題
4. **譜純**（DAD/MS）：純指示峰橫向譜異→共洗雜。調法以增分
5. **負峰或基線擾**：UV 負峰→樣溶劑於檢波長吸收過流動相——溶劑前為常，他處為異
6. **鬼峰**：空白注中之峰→殘留、流動相污、柱流失。報前識源
7. 總結總質，注報結之限

得：諸目之峰質評；異常（拖尾、共洗、鬼峰）記其對數據質之潛影響。

敗：若顯質問題（譜不純證共洗、分析物 tR 有鬼峰）→數據或不可報。標結，查根因，施校正後重運。

## 驗

- [ ] 系統適性參算並於規內
- [ ] 諸目分析物以 tR 識（+/- 譜證）
- [ ] 未知峰標 tR 與面
- [ ] 積分以正基線置行；手動調有記
- [ ] 諸峰算 Rs、T、N、k'
- [ ] 峰質已評——無影響定量之未解共洗
- [ ] 以空白注評鬼峰與殘留
- [ ] 結列並比法受納準

## 忌

- **受自動積分不審**：數據系統或誤置基線，尤肩、大峰鄰小峰、梯度基線。各譜須目審
- **混 tR 偏為新峰**：一致偏（諸峰同移）→系統變非新化合。再注標以重校再識
- **報噪下峰**：S/N < 3（檢）或 < 10（定量）→不識不定量。跡量峰顯算 S/N
- **忽溶劑前**：空體積峰非分析物。確 t0 識並排於報
- **手動積為得目結**：調積以使結過規→數據偽造。諸積分調須科學正當並入審計跡
- **忽譜純查**：淨看峰或藏共洗雜。DAD 或 MS 數據在時必查純

## 參

- `develop-gc-method` — 生譜之 GC 法之法開發
- `develop-hplc-method` — 生譜之 HPLC 法之法開發
- `troubleshoot-separation` — 診譜解時所識之問題
- `validate-analytical-method` — 生色譜數據之法之正式驗證
- `interpret-mass-spectrum` — GC-MS、LC-MS 峰證之 MS 詳解