Debug with Logger
全出力から始めるとノイズにパターンが埋没するので、3つの直交する制御次元（level × length × key）を段階的に絞り込む。
Three Dimensions
| 次元 | 変数 | 問い | 値 |
|---|---|---|---|
| Level | LOG_LEVEL |
深刻度は？ | debug/info/warn/error |
| Length | LOG_LENGTH |
詳細度は？ | (未設定)/S/L/W |
| Key | LOG_KEY |
どのコンポーネント？ | カンマ区切りキー |
Three-Phase Workflow
# Phase 1: エラーのみで障害箇所を特定
LOG_LEVEL=error deno test --allow-env --allow-read --allow-write
# Phase 2: KEY で絞り込み + 短縮表示
LOG_LEVEL=debug LOG_KEY=<key> LOG_LENGTH=S deno test --allow-env --allow-read --allow-write
# Phase 3: 特定テストの全データ確認
LOG_LEVEL=debug LOG_KEY=<key> LOG_LENGTH=W deno test --allow-env --allow-read --allow-write tests/<file>_test.ts
Project KEYs
| KEY | 対象 |
|---|---|
factory-placeholder-test |
PromptVariablesFactory プレースホルダテスト |
path-resolution-test |
PathResolution（パス解決ファクトリ） |
validation-test |
PromptTemplatePathResolver バリデーション |
config-profile-switching-test |
設定プロファイル切り替え |
hardcode-check |
ハードコード検出テスト |
directive-layer-integration-test |
DirectiveType × LayerType 統合テスト |
working-dir-dot-test |
ワーキングディレクトリ "." テスト |
working-dir-base-dir-test |
ワーキングディレクトリ × baseDir 相互作用 |
config-driven-test |
設定駆動テスト |
dynamic-pattern-test |
動的パターン生成テスト |
e2e-* |
E2Eテスト群（e2e-error-edge-cases, e2e-input-adaptation, e2e-stdin-integration, e2e-two-params） |
よく使う組み合わせ: LOG_KEY=path-resolution-test,validation-test（パス系）/ LOG_KEY=e2e-two-params（E2E）/ LOG_KEY=config-driven-test（設定系）
LOG_KEY は完全一致。KEY 一覧の最新取得: grep -rn 'new BreakdownLogger(' --include='*.ts' lib/ tests/
Decision Guide
| 症状 | アクション |
|---|---|
| 出力なし | LOG_LEVEL 確認（デフォルト=info） |
| 出力過多 | LOG_KEY=<component> 追加 |
切り詰め(...) |
LOG_LENGTH を上げる: 未設定→S→L→W |
| 特定テストのみエラー | テストファイルパスを追加 |
| KEY 不明 | grep -rn 'new BreakdownLogger(' --include='*.ts' lib/ tests/ |
ERROR は stderr、それ以外は stdout。2> stderr.log でエラー分離、2>&1 | tee debug.log で全出力。
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